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Sezione ceramica del laboratorio di archeometria


Metodologia della Ricerca (a cura di F.Grassi, F.Fortina ed E. Gliozzo)

Sezione Introduttiva
Tra i tanti interrogativi che l'archeologo è chiamato ad affrontare emerge quello di accertare la provenienza dei manufatti, nel qual caso è della massima importanza individuare i centri di produzione o quantomeno delineare probabili aree geografiche di provenienza.
A questi problemi le moderne tecniche archeometriche sono a volte in grado di rispondere, così come possono contribuire a evidenziare fattori di differenziazione dei manufatti a livello tecnologico; fornire elementi di conoscenza sul grado di specializzazione raggiunto dalle maestranze impiegate nelle fabbriche ceramiche, evidenziare l'utilizzo di nuove tecniche nei rivestimenti e nelle composizioni che siano riferibili all'apertura di nuovi contatti commerciali.
Le metodologie che possono essere impiegate consistono in tecniche non distruttive, che non comportano il prelievo di campioni (analisi al microscopio in luce riflessa – binoculare), e distruttive (MO- microscopio ottico, SEM, XRDP, XRF).
I progetti effettuati dal gruppo di lavoro di Siena si basano sullo studio dei manufatti sia dal punto di vista tessiturale (MO, MICROSCOPIO OTTICO-SEM) sia composizionale (composizione mineralogica, MO-XRDP e chimica, XRF-SEM).

Strumentazione
I progetti effettuati dal gruppo di lavoro di Siena si avvalgono della strumentazione presente presso il Laboratorio di archeometria del dipartimento di Archeologia e press il Dipartimento di Scienze della Terra (www.archaeologicalsciences.it). In particolare nel Laboratorio di archeometria viene effettuata la campionatura, la preparazione di sezioni sottili e la prima analisi effettuata al microscopio stereoscopico a luce riflessa, nei laboratori del Dipartimento di Scienze della Terra le restanti analisi.
Analisi al microscopio stereoscopico in luce riflessa:
Questa analisi viene effettuata con microscopio Zeiss ad ingrandimenti 2X, 4X e 6X.
Analisi al microscopio a luce polarizzata su sezioni sottili (MO)
Lo studio dei campioni con MO è stato effettuato su sezioni sottili preparate con un campione di circa 20-30 mmq, utilizzando un comune microscopio da mineralogia a luce riflessa e polarizzata.
Diffrazione di raggi X (XRDP):
Lo studio dei campioni con la XRD di polveri è stato realizzato utilizzando circa 2 g per ciascun manufatto. Le polveri, ottenute per macinazione in mortaio di agata, sono state analizzate al Diffrattometro Philips PW 1710, con anodo di rame, in condizione di tensione e corrente rispettivamente di 45kV e 25mA.
Microscopia elettronica a scansione (SEM):
Lo strumento utilizzato è un Philips XL30, equipaggiato con uno spettrometro a dispersione di energia (EDS) Philips EDAX DX4.
Fluorescenza di raggi X (XRF):
Si sono utilizzati 6-7 g di campione opportunamente macinato in un mortaio di agata. Lo strumento utilizzato per l’analisi è uno spettrometro di fluorescenza a raggi X Philips PW 1414, con anticatodo di rame per gli elementi maggiori e di tungsteno per i minori. Si sono utilizzati 6-7 g di campione opportunamente macinato in un mortaio di agata